电容器在实际生产过程中，由于材料或工艺等原因，会形成具有一定的等效串联电阻，因此电容器在使用过程中会产生有功损耗，其表现为电容器在运行过程中会产生一定的发热，在导热结构不良的情况下，温度最高点分布在芯子内部，该内核温度将决定电容器的使用寿命，这种情况在高频大电流电容器中尤为突出。
本技术的目的在于克服上述现在技术中存在的不足之处，而提供一种结构简单、制造成本低、散热性能良好、使用寿命长的电容器。